Layanan Kontraktual
DESKRIPSI LAYANAN | Unit: XPS Kratos AXIS SUPRA PLUS/ESCA Spektroskopi fotoelektron sinar-X (XPS) juga dikenal sebagai Spektroskopi Elektron untuk Analisis Kimia (ESCA) adalah teknik spektroskopi yang memanfaatkan efek fotolistrik untuk menganalisis kandungan unsur suatu…
- Laboratorium Imaging Fisika Maju
- Direktorat Pengelolaan Laboratorium, Fasilitas Riset, dan Kawasan Sains dan Teknologi
- Puspiptek - Serpong
KST BJ Habibie Gedung 440-442 Laboratorium Imaging Fisika Maju Badan Riset dan Inovasi Nasional - 08119811562
- labkarserpong@brin.go.id
Marketing Office
Deputi Bidang Infrastruktur Riset dan Inovasi BRIN
layanan_sains@brin.go.id
Unit: XPS Kratos AXIS SUPRA PLUS/ESCA
Spektroskopi fotoelektron sinar-X (XPS) juga dikenal sebagai Spektroskopi Elektron untuk Analisis Kimia (ESCA) adalah teknik spektroskopi yang memanfaatkan efek fotolistrik untuk menganalisis kandungan unsur suatu bahan. Teknik ini sangat sensitif terhadap permukaan karena sinar X-ray yang menyinari material hanya menembus kedalaman sekitar 10 nm. Oleh karena itu, teknik spektroskopi ini sangat spesifik untuk menganalisis permukaan suatu material dan merupakan teknik karakterisasi kunci dalam bidang ilmu permukaan.
Pada layanan ini akan dilakukan pengujian Wide atau Survey Scan yang ditandai dengan rentang energi yang luas untuk mendeteksi semua kemungkinan unsur yang terdapat pada permukaan material, dan Narrow atau Regional Scan yang ditandai dengan rentang energi tertentu yang lebih sempit sesuai dengan kebutuhan. jenis elemen tertentu yang diinginkan. diamati lebih lanjut.
Pengolahan data tingkat lanjut seperti identifikasi unsur, komposisi kimia, dekonvolusi, dan lain sebagainya dapat menggunakan software tersendiri atau software “ESCApe” dari Kratos AXIS Supra+ yang diinstal pada komputer khusus dan dapat didaftarkan melalui link: https:// elsa.brin.go.id/service/index/Software Analysis XPS/7103
Catatan:
1. Sebelum klik Minta Layanan, harap melihat JADWAL yang tersedia terlebih dahulu.
2. Untuk memudahkan verifikasi sampel uji yang didaftarkan, pelanggan harus melengkapi Formulir F-10 yang dapat diunduh pada bagian “File Layanan” kemudian pilih “File SOP Layanan”. Formulir F-10 yang telah diisi format PDF diunggah beserta Contoh Foto pada bagian “File Pendukung Lainnya” dan “File Data Foto”.
3. Pastikan NAMA dan JUMLAH SAMPEL yang didaftarkan pada ELSA sama dengan JUMLAH SAMPEL yang tertulis pada Formulir F-10.
4. Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Manajemen Laboratorium.
5. Karena permukaannya yang sangat sensitif, harap lebih berhati-hati saat mengirim sampel. Disarankan untuk menutup/menutup sampel dengan alumunium foil yang bersih sebelum dimasukkan ke dalam wadah plastik/botol/wadah lainnya.
6. Pengembalian dana tidak dapat dilakukan kecuali ada kendala teknis di Laboratorium.
7. Jika sampel akan diambil kembali. Batas waktu pengambilan sampel maksimal 1 bulan (30 hari kerja) setelah pengujian selesai.
Syarat Pengajuan:
Spektroskopi fotoelektron sinar-X (XPS) juga dikenal sebagai Spektroskopi Elektron untuk Analisis Kimia (ESCA) adalah teknik spektroskopi yang memanfaatkan efek fotolistrik untuk menganalisis kandungan unsur suatu bahan. Teknik ini sangat sensitif terhadap permukaan karena sinar X-ray yang menyinari material hanya menembus kedalaman sekitar 10 nm. Oleh karena itu, teknik spektroskopi ini sangat spesifik untuk menganalisis permukaan suatu material dan merupakan teknik karakterisasi kunci dalam bidang ilmu permukaan.
Pada layanan ini akan dilakukan pengujian Wide atau Survey Scan yang ditandai dengan rentang energi yang luas untuk mendeteksi semua kemungkinan unsur yang terdapat pada permukaan material, dan Narrow atau Regional Scan yang ditandai dengan rentang energi tertentu yang lebih sempit sesuai dengan kebutuhan. jenis elemen tertentu yang diinginkan. diamati lebih lanjut.
Pengolahan data tingkat lanjut seperti identifikasi unsur, komposisi kimia, dekonvolusi, dan lain sebagainya dapat menggunakan software tersendiri atau software “ESCApe” dari Kratos AXIS Supra+ yang diinstal pada komputer khusus dan dapat didaftarkan melalui link: https:// elsa.brin.go.id/service/index/Software Analysis XPS/7103
Catatan:
1. Sebelum klik Minta Layanan, harap melihat JADWAL yang tersedia terlebih dahulu.
2. Untuk memudahkan verifikasi sampel uji yang didaftarkan, pelanggan harus melengkapi Formulir F-10 yang dapat diunduh pada bagian “File Layanan” kemudian pilih “File SOP Layanan”. Formulir F-10 yang telah diisi format PDF diunggah beserta Contoh Foto pada bagian “File Pendukung Lainnya” dan “File Data Foto”.
3. Pastikan NAMA dan JUMLAH SAMPEL yang didaftarkan pada ELSA sama dengan JUMLAH SAMPEL yang tertulis pada Formulir F-10.
4. Ketidaklengkapan dokumen pendukung tersebut dapat menyebabkan pendaftaran sampel uji dibatalkan oleh Manajemen Laboratorium.
5. Karena permukaannya yang sangat sensitif, harap lebih berhati-hati saat mengirim sampel. Disarankan untuk menutup/menutup sampel dengan alumunium foil yang bersih sebelum dimasukkan ke dalam wadah plastik/botol/wadah lainnya.
6. Pengembalian dana tidak dapat dilakukan kecuali ada kendala teknis di Laboratorium.
7. Jika sampel akan diambil kembali. Batas waktu pengambilan sampel maksimal 1 bulan (30 hari kerja) setelah pengujian selesai.
Syarat Pengajuan:
- File Data Foto
- File Dukung Lainnya
| Nama Berkas | Ukuran Berkas | |
|---|---|---|
| Berkas SOP Layanan | 0.14 MB | |
| Template File Data Foto | 0 MB | |
| Template File Dukung Lainnya | 0 MB |
